1. मापा पैरामीटर सीधे मापा जाता है या नहीं, इसे प्रत्यक्ष माप और अप्रत्यक्ष माप में विभाजित किया जा सकता है।
प्रत्यक्ष माप: मापा आकार प्राप्त करने के लिए सीधे मापा पैरामीटर को मापें। उदाहरण के लिए, कैलीपर्स और तुलनित्रों से मापें। अप्रत्यक्ष माप: मापा आकार से संबंधित ज्यामितीय मापदंडों को मापें, और गणना के माध्यम से मापा आकार प्राप्त करें।
जाहिर है, प्रत्यक्ष माप अधिक सहज है, और अप्रत्यक्ष माप अधिक बोझिल है। आम तौर पर, जब मापा आकार या प्रत्यक्ष माप सटीकता आवश्यकताओं को पूरा नहीं कर सकता है, तो अप्रत्यक्ष माप का उपयोग करना पड़ता है।
2. मापक यंत्र का पठन मूल्य सीधे मापा आकार के मूल्य का प्रतिनिधित्व करता है या नहीं, इसे पूर्ण माप और सापेक्ष माप में विभाजित किया जा सकता है।
निरपेक्ष माप: पठन मान सीधे मापे गए आकार के आकार को इंगित करता है, जैसे वर्नियर कैलीपर से मापना।
सापेक्ष मापन: पठन मान केवल मानक मात्रा के सापेक्ष मापे गए आकार के विचलन को दर्शाता है। यदि शाफ्ट के व्यास को मापने के लिए एक तुलनित्र का उपयोग किया जाता है, तो पहले मापने वाले ब्लॉक के साथ उपकरण की शून्य स्थिति को समायोजित करना आवश्यक है, और फिर मापें। मापा मूल्य साइड शाफ्ट के व्यास और मापने वाले ब्लॉक के आकार के बीच का अंतर है, जो सापेक्ष माप है। सामान्यतया, सापेक्ष माप सटीकता अधिक होती है, लेकिन माप अधिक परेशानी वाला होता है।
3. मापी गई सतह मापने वाले यंत्र के मापने वाले सिर के संपर्क में है या नहीं, इसे संपर्क माप और गैर-संपर्क माप में विभाजित किया गया है।
संपर्क माप: मापने वाला सिर संपर्क की जाने वाली सतह के संपर्क में है, और एक यांत्रिक माप बल है। जैसे कि माइक्रोमीटर से भागों को मापना।
गैर-संपर्क माप: मापने वाला सिर मापा भाग की सतह के संपर्क में नहीं है, और गैर-संपर्क माप माप परिणामों पर माप बल के प्रभाव से बच सकता है। जैसे प्रोजेक्शन मेथड, लाइट वेव इंटरफेरोमेट्री वगैरह का इस्तेमाल।
4. एक समय में मापे गए मापदंडों की संख्या के अनुसार, इसे एकल माप और व्यापक माप में विभाजित किया गया है।
एकल माप; परीक्षण के तहत भाग के प्रत्येक पैरामीटर को अलग से मापें।
व्यापक माप: भाग के प्रासंगिक मापदंडों को दर्शाते हुए व्यापक सूचकांक को मापें। उदाहरण के लिए, एक उपकरण माइक्रोस्कोप के साथ धागे को मापते समय, धागे का वास्तविक पिच व्यास, टूथ प्रोफाइल का आधा कोण त्रुटि और पिच की संचयी त्रुटि को अलग से मापा जा सकता है।
व्यापक माप आम तौर पर भागों की विनिमेयता सुनिश्चित करने के लिए अधिक कुशल और अधिक विश्वसनीय होता है, और अक्सर तैयार भागों के निरीक्षण के लिए उपयोग किया जाता है। एकल माप प्रत्येक पैरामीटर की त्रुटि को अलग से निर्धारित कर सकता है, और आमतौर पर प्रक्रिया विश्लेषण, प्रक्रिया निरीक्षण और निर्दिष्ट मापदंडों के माप के लिए उपयोग किया जाता है।
5. प्रसंस्करण प्रक्रिया में माप की भूमिका के अनुसार, इसे सक्रिय माप और निष्क्रिय माप में विभाजित किया गया है।
सक्रिय माप: प्रसंस्करण के दौरान वर्कपीस को मापा जाता है, और परिणाम का उपयोग सीधे भाग के प्रसंस्करण को नियंत्रित करने के लिए किया जाता है, ताकि समय पर कचरे की पीढ़ी को रोका जा सके।
निष्क्रिय माप: वर्कपीस के मशीनी होने के बाद किए गए माप। इस प्रकार का माप केवल यह निर्धारित कर सकता है कि वर्कपीस योग्य है या नहीं, और यह अपशिष्ट उत्पादों को खोजने और अस्वीकार करने तक सीमित है।
6. माप प्रक्रिया में मापा भाग की स्थिति के अनुसार, इसे स्थिर माप और गतिशील माप में विभाजित किया जाता है।
स्थिर माप; माप अपेक्षाकृत स्थिर है। जैसे व्यास मापने के लिए माइक्रोमीटर।
गतिशील माप; माप के दौरान, मापी जाने वाली सतह और मापने वाला सिर नकली कार्यशील अवस्था में एक दूसरे के सापेक्ष गति करता है।
गतिशील माप विधि उपयोग राज्य के करीब भागों की स्थिति को प्रतिबिंबित कर सकती है, जो माप प्रौद्योगिकी की विकास दिशा है।